Atomic Force Microscope, AFM

Som en del av pågående studier av de grunnleggende fysiske egenskapene til en rekke forskjellige organiske og uorganiske nanopartikkel-systemer har man innen grupperingen for "Komplekse systemer og myke materialer" (COMPLEX) et stort og udekket behov for å kunne avbilde og manipulere slike partikler og strukturer av disse på nanometerskala. Dette omfatter systemer som både må studeres i kontrollerbar atmosfære (eksempelvis fuktig luft) eller i løsning (eksempelvis vann). I praksis kan dette behovet kun dekkes av et Atomic Force Microscope (AFM).